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임베디드 시스템 testing_20

(28개 제품 제공)

2025-12-02

E1 /SDH 비트 오류 테스터, E1/데이터콤 데이터 전송 분석기, HCT-BERT/C E1 2M 오류율 테스터 - Product Image 1

E1 /SDH 비트 오류 테스터, E1/데이터콤 데이터 전송 분석기, HCT-BERT/C E1 2M 오류율 테스터 - Product Image 2

E1 /SDH 비트 오류 테스터, E1/데이터콤 데이터 전송 분석기, HCT-BERT/C E1 2M 오류율 테스터 - Product Image 3

E1 /SDH 비트 오류 테스터, E1/데이터콤 데이터 전송 분석기, HCT-BERT/C E1 2M 오류율 테스터 - Product Image 4

E1 /SDH 비트 오류 테스터, E1/데이터콤 데이터 전송 분석기, HCT-BERT/C E1 2M 오류율 테스터 - Product Image 5

E1 /SDH 비트 오류 테스터, E1/데이터콤 데이터 전송 분석기, HCT-BERT/C E1 2M 오류율 테스터 - Product Image 6

E1 /SDH 비트 오류 테스터, E1/데이터콤 데이터 전송 분석기, HCT-BERT/C E1 2M 오류율 테스터

US$800-990

최소 주문: 2 개

토목교량 터널 경사면을 위한 고속 동적 구조건전성 모니터링 데이터 수집 시스템 - Product Image 1

토목교량 터널 경사면을 위한 고속 동적 구조건전성 모니터링 데이터 수집 시스템 - Product Image 2

토목교량 터널 경사면을 위한 고속 동적 구조건전성 모니터링 데이터 수집 시스템 - Product Image 3

토목교량 터널 경사면을 위한 고속 동적 구조건전성 모니터링 데이터 수집 시스템 - Product Image 4

토목교량 터널 경사면을 위한 고속 동적 구조건전성 모니터링 데이터 수집 시스템 - Product Image 5

토목교량 터널 경사면을 위한 고속 동적 구조건전성 모니터링 데이터 수집 시스템 - Product Image 6

토목교량 터널 경사면을 위한 고속 동적 구조건전성 모니터링 데이터 수집 시스템

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US$7,206-10,000

최소 주문: 1 개

Kinco GL2070HE 저가 소형 임베디드 산업용 LCD 디스플레이 터치 스크린 휴먼 머신 인터페이스 및 산업용 PC - Product Image 1

Kinco GL2070HE 저가 소형 임베디드 산업용 LCD 디스플레이 터치 스크린 휴먼 머신 인터페이스 및 산업용 PC - Product Image 2

Kinco GL2070HE 저가 소형 임베디드 산업용 LCD 디스플레이 터치 스크린 휴먼 머신 인터페이스 및 산업용 PC - Product Image 3

Kinco GL2070HE 저가 소형 임베디드 산업용 LCD 디스플레이 터치 스크린 휴먼 머신 인터페이스 및 산업용 PC - Product Image 4

Kinco GL2070HE 저가 소형 임베디드 산업용 LCD 디스플레이 터치 스크린 휴먼 머신 인터페이스 및 산업용 PC

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US$69-103

최소 주문: 5 개

Eddy Current 기술을 이용한 강자성 파이프 산업시험 서비스 - Product Image 1

Eddy Current 기술을 이용한 강자성 파이프 산업시험 서비스

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US$2.75

최소 주문: 1 개

프로그래밍 가능한 전기 및 회로 해석 실험장치 - Product Image 1

프로그래밍 가능한 전기 및 회로 해석 실험장치 - Product Image 2

프로그래밍 가능한 전기 및 회로 해석 실험장치 - Product Image 3

프로그래밍 가능한 전기 및 회로 해석 실험장치 - Product Image 4

프로그래밍 가능한 전기 및 회로 해석 실험장치 - Product Image 5

프로그래밍 가능한 전기 및 회로 해석 실험장치 - Product Image 6

프로그래밍 가능한 전기 및 회로 해석 실험장치

US$3,800-4,500

최소 주문: 1 개

OPTO-EDU A63.7001 SE BSE 150000x 10nm SEM 텅스텐 필라멘트 스캐닝 전자 현미경 - Product Image 1

OPTO-EDU A63.7001 SE BSE 150000x 10nm SEM 텅스텐 필라멘트 스캐닝 전자 현미경 - Product Image 2

OPTO-EDU A63.7001 SE BSE 150000x 10nm SEM 텅스텐 필라멘트 스캐닝 전자 현미경 - Product Image 3

OPTO-EDU A63.7001 SE BSE 150000x 10nm SEM 텅스텐 필라멘트 스캐닝 전자 현미경 - Product Image 4

OPTO-EDU A63.7001 SE BSE 150000x 10nm SEM 텅스텐 필라멘트 스캐닝 전자 현미경

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US$55,000-78,800

최소 주문: 1 개

기초 파일 무결성 테스트를 위한 T-측정 220V 동적 탐지기 시스템 고급 파일 테스트 장비 - Product Image 1

기초 파일 무결성 테스트를 위한 T-측정 220V 동적 탐지기 시스템 고급 파일 테스트 장비 - Product Image 2

기초 파일 무결성 테스트를 위한 T-측정 220V 동적 탐지기 시스템 고급 파일 테스트 장비 - Product Image 3

기초 파일 무결성 테스트를 위한 T-측정 220V 동적 탐지기 시스템 고급 파일 테스트 장비 - Product Image 4

기초 파일 무결성 테스트를 위한 T-측정 220V 동적 탐지기 시스템 고급 파일 테스트 장비 - Product Image 5

기초 파일 무결성 테스트를 위한 T-측정 220V 동적 탐지기 시스템 고급 파일 테스트 장비 - Product Image 6

기초 파일 무결성 테스트를 위한 T-측정 220V 동적 탐지기 시스템 고급 파일 테스트 장비

US$4,200-4,980

최소 주문: 1 세트

Taijia ZBL-P8000 시스템 파일 무결성 테스터, 무선 기초 파일 동적 테스터용 파일 테스트 장비 - Product Image 1

Taijia ZBL-P8000 시스템 파일 무결성 테스터, 무선 기초 파일 동적 테스터용 파일 테스트 장비 - Product Image 2

Taijia ZBL-P8000 시스템 파일 무결성 테스터, 무선 기초 파일 동적 테스터용 파일 테스트 장비 - Product Image 3

Taijia ZBL-P8000 시스템 파일 무결성 테스터, 무선 기초 파일 동적 테스터용 파일 테스트 장비 - Product Image 4

Taijia ZBL-P8000 시스템 파일 무결성 테스터, 무선 기초 파일 동적 테스터용 파일 테스트 장비 - Product Image 5

Taijia ZBL-P8000 시스템 파일 무결성 테스터, 무선 기초 파일 동적 테스터용 파일 테스트 장비 - Product Image 6

Taijia ZBL-P8000 시스템 파일 무결성 테스터, 무선 기초 파일 동적 테스터용 파일 테스트 장비

배송 준비 완료

US$2,350

최소 주문: 1 세트

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