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수평 Nano 기술 측정 계기 레이저 검사 표면 Profilometer 3D 기계 단면도 및 거칠기 검사자

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주요 속성

기타 속성

원래 장소
Guangdong, China
보장
3 년
유명 상표
Chotest
제품 이름
3D 광학 표면 profilometer
표준 시야
0.98*0.98mm
인증
IECEE
해상도 Z 축
0.1nm
스캐닝 범위 Z 축
10mm
최대 스캔 속도
45 μm/s
스테이지 측정 정확도
0.7%
반복성 RMS
0.005nm
이동 범위 Z 축
100mm
무게
150

포장 및 배송

포장 세부정보
Wooden case + Aluminium suitcase +foam
항구
Shenzhen, Hongkong

공급 능력

공급 능력
60 개 per Month

리드 타임

수량 (개)1 - 5 > 5
예상 시간(일)30협의 예정

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